Bruker CTX保留了手持式XRF的便攜性，其封閉性測試設計，也足以獲得桌上型XRF的效能與安全表現，所搭載的超高性能CUBE™矽漂移SDD檢測器 (解析度<145ev)，獨家專利CUBE™訊號放大晶片，是以極高計數率運作，因而能於極短的測量時間內提供極佳的精確度，因此可用於測量鎂、鋁、矽等輕元素，無論需要分析大型加工零件、孩童玩具或小型物件，CTX都能快速而準確的為您取得結果。
應用領域
- 金屬分類 Alloy
- 合金國際牌號辨識 PMI
- 貴金屬分析 Precious Metals
- 石灰岩/石英砂成分(水泥類應用) Limestone
- 地質探勘/地質礦物 GeoExploration/GeoMining
- 土壤/環境重金屬分析 Heavy Metals & Nutrients in Soil
- RoHS/無鹵有害元素篩選 Restricted Mateials
- 歐洲玩具標準EN71-3 Toy Safety
- 美國CPSIA鉛含量限制 Total Lead
- 金屬電鍍膜厚量測 Coating Thickness
- 燃料油硫含量 MARPOL Maritime Sulfur
- 觸媒貴金屬(Pt,Rh,Pd) Automotive Catalytic Converter Recycling
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