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TRACER 5g 為 Bruker 專為研究與科學分析打造的高階手持式 XRF 元素分析儀，可提供從 F⁹（氟）至 U⁹²（鈾）的元素分析能力。不同於一般手持式 XRF 採固定分析模式，TRACER 5g 可自由設定 X 光管電壓、電流、濾波器及量測環境（Air／Helium），協助研究人員依不同樣品建立最佳分析條件，大幅提升分析靈敏度與準確度。廣泛應用於材料研究、地球科學、考古文物、博物館、礦物分析、電池材料、陶瓷及學術研究等領域，是研究級可攜式 XRF 的理想選擇。

從氟 F⁹ 到鈾 U9²，實現研究級元素分析
TRACER 5g 搭載配備石墨烯視窗（Graphene Window）的大面積矽漂移偵測器（SDD），並支援氦氣吹掃（Helium Purge）量測模式，可有效降低空氣對低能量 X 光的吸收，大幅提升輕元素的分析能力。
除了可進行一般元素定性與定量分析外，更可保留完整 XRF 光譜資料，協助研究人員進行峰值判讀、方法開發、校正模型建立及材料特性研究，滿足高階科研與實驗需求。

自由設定分析條件，滿足各類研究需求
TRACER 5g 提供高度彈性的分析平台，可依不同樣品自由調整 X 光管電壓、電流、濾波器、量測時間及分析環境，建立最適化分析方法。
無論是地質樣品、陶瓷、玻璃、文物、金屬、粉末、薄膜或電池材料，都能依照研究需求調整最佳分析參數，提高分析靈敏度、降低偵測極限，提供更可靠的研究數據。

可攜式研究平台，讓實驗室走向現場
TRACER 5g 結合實驗室等級分析能力與手持式設計，可直接於野外、礦區、考古現場、博物館或實驗場所進行非破壞元素分析，大幅提升研究效率。
搭配完整光譜輸出與資料管理功能，可快速完成量測、分析、資料儲存與後續研究，大幅縮短樣品送驗與分析流程。

為研究而設計，提供更完整的元素資訊
相較於一般工業型手持式 XRF，TRACER 5g 更重視分析彈性與研究深度，不僅提供元素組成，更支援完整光譜分析、自訂分析條件及方法開發，適合研究機構、大學實驗室及高階材料分析應用。

應用領域

• 半導體材料分析（Semiconductor Materials）
• PFAS 與含氟材料分析（PFAS & Fluorine Analysis）
• 地球科學（Geoscience）
• 礦物與礦石分析（Mining & Mineral Analysis）
• 地質探勘（Geological Exploration）
• 材料科學（Materials Science）
• 電池材料分析（Battery Materials）
• 陶瓷與玻璃研究（Ceramics & Glass）
• 考古研究（Archaeology）
• 文物保存與博物館分析（Cultural Heritage）
• 金屬材料研究（Metallurgy）
• 催化材料分析（Catalyst Analysis）
• 稀土元素分析（Rare Earth Elements）
• 環境污染與土壤分析（Environmental & Soil Analysis）
• 學術研究與研究機構（Academic Research）
• 法醫科學（Forensic Science）
• 藝術品與古代顏料分析（Art Conservation & Pigment Analysis）
• 水泥、耐火材料與建材分析（Cement & Refractory Materials）
• 化工與高分子材料研究（Chemical & Polymer Materials